- ― 手頃な価格の一方向ビームプロファイリング
- ― 最小2μmのビームを直接プロファイル
手頃な価格の小型ビーム用スキャニングスリットビームプロファイラ
Beam’R2は、多くのレーザービームプロファイリングアプリケーションに適しています。標準的な2.5μmスリットと大型のナイフエッジスリットの両方を備えており、直径2μmのビームを測定することができます。シリコンとInGaAsまたは拡張InGaAsの両方のオプションにより、Beam‘R2は190nm～2500nmのビームをプロファイルできます。
スキャンスリット機器は、カメラベースのシステムよりもはるかに高い解像度を実現します。
特徴
- 190～2500nmをカバーする複数の検出器オプション
– シリコン検出器：190～1150nm
– InGaAs検出器：650～1800nm
– InGaAs（拡張）検出器：1800～2300/2500nm - ISO準拠のビーム径測定
- ポートパワーUSB 2.0
- オートゲイン機能
- ポートパワーUSB 3.0
- ISO 11146準拠のM²測定用ステージアクセサリー（オプション）
- True2D™スリット
- 解像度：0.1μm
- 更新レート：5Hz（2～10Hzで調整可能）
- CW/準CWビームプロファイル
- ビーム径：5μm～4mm、ナイフエッジモード時2μm
アプリケーション
- 超小型レーザービームのプロファイリング
- 光学アセンブリと機器のアライメント
- OEM組み込み
- レンズ焦点距離テスト
- 焦点合わせとアライメントエラーのリアルタイム診断
- 複数のアセンブリを同じ焦点にリアルタイムで設定
- M2DUステージを用いたM²の測定
True2D™ スリット
- サファイア基板上に0.4μm厚の金属多層膜を形成
- エアスリットに比べて多くの利点
- トンネル効果の回避
- エアスリットは一般的に幅よりも奥行きが深く、高照度下で座屈する可能性あり
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※ 最低動作環境：Windows10（64ビット）
