LVEM比較表 Delong Instruments

lvem25

  LVEM5 LVEM25  LVEM25E 従来のTEM
型式 lvem5 lvem25 lvem25e
動作モード TEM, STEM, SEM, ED TEM, STEM, ED TEM, STEM, ED, EDS
Dark Field TEM, Dark Field STEM
TEM
非染色試料とのコントラスト比 高い 高い 高い 低い
動作電圧 5kV 10、15、25kV 10、15、25kV 80~300kV
電子源 放射電子銃 (FEG) 放射電子銃 (FEG) 放射電子銃 (FEG) タングステンまたはFEG
解像度        
TEM解像度 2.0nm
(TEMブースト:1.2nm)
1.0nm 1.0nm 2.0nm未満
最終 TEM 画像解像度 0.65nm/画素(TEMブースト: 0.18nm/画素) 0.07nm/画素 0.07nm/画素  
設置関連        
設置方法 卓上、実験台 実験室 実験室 専用の実験室
電源 標準プラグ 標準プラグ 標準プラグ 専用HVソース
冷却水 不要 不要 不要 必要水量:0.2~0.6MPa
圧縮空気 不要 不要 不要 必要な圧縮空気: ‘4-6 Atm
エアロックポンプダウン 3分 3分 2分 カラムサイズに依存
重さ 約60㎏(134ポンド) 約200㎏(448ポンド) 約270㎏(600ポンド) 約1500㎏(3300ポンド)
サイズ 約60㎝×約120㎝(2フィート×4フィート) 約100㎝×約230㎝(3.2フィート×7.57フィート) 約200㎝×約70㎝(6.8フィート×2.4フィート) 約490㎝×約580㎝(16フィート×19フィート)
操作性 簡単操作 簡単操作 簡単操作 複雑
誰でも使用可能 誰でも使用可能 誰でも使用可能 専任者が必要
学生でも扱える 学生でも扱える 学生でも扱える  
サンプル厚さ 20~50 nm. TEM 80+ nm. TEM 80+ nm. TEM 80+ nm. TEM
20~80 nm. STEM 80+ nm. STEM 80+ nm. STEM 80+ nm. STEM
サイズ比較

LVEM25 LVEM25 LVEM25  
LVEM25
コントラスト比較 LVEM25

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Delong Instruments社は透過型電子顕微鏡(TEM)の分野で25年以上の経験があり、
電子光学機器、真空技術の開発、設計サービスの提供、精密部品の製造を行っています。