OSI社は様々な性能と構成を持つシリコンPINフォトダイオードとアバランシェフォトダイオードを幅広く取り揃えています。
Nd:YAGシリーズシリコンフォトダイオードはNd:YAGレーザー光の波長である1064nmで
の高応答性に最適化されたフォトダイオードです。
低キャパシタンスで高速応答が可能です。
低ノイズで高応答なため、測距アプリケーションにおいてNd:YAGレーザービームを照射した物体からの反射光など、微弱な光の測定に適しています。
このフォトダイオードは低ノイズを必要とするアプリケーションではフォトボルティックモー
ド(非バイアス)で、高速アプリケーションではフォトコンダクティブモード(バイアス)で動
作させることができます。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number |
Active Area |
Active Area Dimensions |
Peak Wavelength |
Responsivity | Dark Current |
Capacitance | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
PIN-5-YA G |
5.1 mm² | 2.54 Φ mm |
1000 nm | 0.4 A/W | 5 nA | 5 pF | TO-5 | ||
PIN-100-Y AG |
100 mm² | 11.28 Φ mm |
1000 nm | 0.4 A/W | 75 nA | 30 pF | Metal | ||
SPOT-9-Y AG |
19.6 mm² | 10 Φ mm | 1000 nm | 0.4 A/W | 20 nA | 7 pF | Metal | ||
SPOT-11- YAG-FL |
26 mm² | 11.5 Φ mm |
1000 nm | 0.42 A/W | 7 nA | 12 pF | Metal | ||
SPOT-13- YAG-FL |
33.7 mm² | 13.1 Φ mm |
1000 nm | 0.42 A/W | 8 nA | 14 pF | Metal | ||
SPOT-15- YAG |
38.5 mm² | 14.0 Φ mm |
1000 nm | 0.4 A/W | 50 nA | 15 pF | Metal |
シリコンアバランシェフォトダイオードは衝撃電離による利得を得るために、内部逓倍(internal multiplication)を利用しています。
その結果、最適化された高応答性デバイスのシリーズが生まれ、優れた感度を示します。
光ファイバーアプリケーション用にフラットウィンドウまたはボールレンズを使用した数種類のサイズのディテクターを提供しています。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area Diameter | Active Area | Gain | Responsivity @ Gain M | Dark Current @ Gain M | Capacitance | Bandwidth @ Gain M 800nm | Breakdown Voltage | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
APD02-8-150-xxxxm | 0.2 mm | 0.3 mm2 | 100 | 50 A/W | 0.05 nA | 1.5 pF | 1000 MHz | 150 V | T-52 | ||
APD05-8-150-xxxx | 0.5 mm | 0.19 mm2 | 100 | 50 A/W | 0.1 nA | 3 pF | 900 MHz | 150 V | T-52 | ||
APD10-8-150-xxxx | 1 mm | 0.78 mm2 | 100 | 50 A/W | 0.2 nA | 6 pF | 600 MHz | 150 V | T-52 | ||
APD15-8-150-xxxx | 1.5 mm | 1.77 mm2 | 100 | 50 A/W | 0.5 nA | 10 pF | 350 MHz | 150 V | TO-5 | ||
APD30-8-150-xxxx | 3 mm | 7 mm2 | 60 | 30 A/W | 1 nA | 40 pF | 65 MHz | 150 V | TO-5 | ||
APD50-8-150-xxxx | 5 mm | 19.6 mm2 | 40 | 20 A/W | 3 nA | 105 pF | 25 MHz | 150 V | TO-8 |
BI-SMTシリーズはデバイス端のデッドエリアを最小限に抑えるように設計された1チャンネル背面照射型シリコンフォトダイオードです。
各デバイスはチップサイズそのものに近い寸法のパッケージ上に設計されています。
この設計により、複数の検出器をタイル状に配置することができ、必要に応じてシンチレータとのカップリングも容易に行えます。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Active Area Dimensions | Peak Wavelength | Responsivity | Dark Current | Shunt Resistancence | Capacitance | Rise time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
33BI-SMT | 5.76 mm² | 2.4 x 2.4 mm | 920 nm | 0.59 A/W | 0.02 nA | 500 MΩ | 50 pF | 10 µs | SMT | ||
155BI-SMT | 19.36 mm² | 4.4 x 4.4 mm | 920 nm | 0.59 A/W | 0.04 nA | 250 MΩ | 200 pF | 20 µs | SMT | ||
1010BI-SMT | 88.36 mm² | 9.4 x 9.4 mm | 920 nm | 0.59 A/W | 0.16 nA | 1 MΩ | 900 pF | 20 µs | SMT |
OSI社はTO-5およびTO-8メタルパッケージの環状4分割の後方散乱フォトディテクターを提供しています。
350nm~1100nmの感度を持つデバイスです。
200μmのレーザードリル穴は、LCフェルールとのカップリングに最適です。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
シリコンブルーシリーズは高感度と中程度の応答速度を必要とするアプリケーションに使用され、ブルーエンハンスドシリーズでは可視~青色領域での感度が追加されています。
スペクトル応答範囲は350~1100 nmで、可視および近赤外域のアプリケーションに最適なフォトボルティック変換デバイスです。
これらの検出器は高いシャント抵抗と低ノイズを備え、長期的な安定性を示しています。
これらの検出器の偏りのない動作により、DCまたは低速アプリケーションの広い温度変化下で安定性が得られます。
高い光量 (10mW/cm2以上) ではフォトコンダクティブシリーズがより良い線形性を発揮します。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Responsivity | Shunt Resistance | Capacitance | Rise Time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
OSD1-5T | 1 mm² | 0.21 A/W | 250 GΩ | 35 pF | 7 ns | TO-18 | ||
OSD3-5T | 3 mm² | 0.21 A/W | 100 GΩ | 80 pF | 9 ns | TO-18 | ||
OSD5-5T | 5 mm² | 0.21 A/W | 100 GΩ | 130 pF | 9 ns | TO-5 | ||
OSD15-5T | 15 mm² | 0.21 A/W | 50 GΩ | 390 pF | 12 ns | TO-5 | ||
OSD60-5T | 62 mm² | 0.21 A/W | 3 GΩ | 1800 pF | 30 ns | TO-8 | ||
OSD100-5TA | 100 mm² | 0.21 A/W | 2 GΩ | 2500 pF | 45 ns | Special | ||
PIN-040DP/SB | 0.81 mm² | 0.20 A/W | 600 GΩ | 60 pF | 0.02 ns | TO-18 | ||
PIN-5DP/SB | 5.1 mm² | 0.20 A/W | 150 GΩ | 450 pF | 0.2 ns | TO-5 | ||
PIN-10DP/SB | 100 mm² | 0.20 A/W | 10 GΩ | 8800 pF | 2 ns | BNC | ||
PIN-10DPI/SB | 100 mm² | 0.20 A/W | 10 GΩ | 8800 pF | 2 ns | Metal | ||
PIN- 220DP/SB | 200 mm² | 0.20 A/W | 5 GΩ | 17000 pF | 4 ns | Plastic |
BPX65-100レシーバーはBPX-65超高速フォトダイオードとNE5212(Signetics) トランスインピーダンスアンプが組み込まれています。
標準品にはSTコネクタとSMAコネクタのバージョンがあります。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
ディテクターフィルターコンビネーションシリーズはフィルターとフォトダイオードを組み合わせて、独自の分光感度特性を実現します。 OSI社では多くの標準品とカスタム品の組み合わせを提供しています。 ご要望に応じて全てのディテクターフィルターの組み合わせに、アンペア/ワット、アンペア/ルーメン、アンペア/ルクス、アンペア/フートキャンドルの単位で指定したNISTトレーサブルキャリブレーションデータを提供することが可能です。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
スーパーリニアポジションセンサーは最新のデュオラテラル技術により、アクティブエリアの中心から光スポットのセントロイドの変位に比例した連続的なアナログ出力を提供します。
連続位置センサーとして検出エリアの64%にわたって99%の位置精度を提供する、比類のない製品です。
この精度はチップの上部と下部にそれぞれ2つの抵抗層を設けるデュオラテラル技術によって実現されました。
これらのセンサーを使用することで、一次元または二次元の位置測定が可能です。
高照度下で最適な電流直線性を得るためには、これらの検出器に逆バイアスを印加する必要があります。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number |
Active Area |
Active Area Dimensions |
Position Detector Error |
Inter-Electrode Resistance (min) | Responsivity | Dark Current | Capacitance | Rise Time | Package |
DUO-LATERAL POSITION SENSING DETECTORS (PSD) ONE-DIMENSIONAL | |||||||||||
SL3-1 | 3 mm² | 3 x 1 mm | 3 µm | 15 kΩ | 0.4 A/W | 5 nm | 3 pF | 0.04 µs | TO-5 | ||
SL5-1 | 5 mm² | 5 x 1 mm | 5 µm | 20 kΩ | 0.4 A/W | 10 nm | 5 pF | 0.10 µs | TO-8 | ||
SL3-2 | 3 mm² | 3 x 1 mm | 3 µm | 15 kΩ | 0.4 A/W | 5 nm | 3 pF | 0.04 µs | 8-PIN DIP | ||
SL5-2 | 5 mm² | 5 x 1 mm | 5 µm | 20 kΩ | 0.4 A/W | 10 nm | 5 pF | 0.10 µs | 8-PIN DIP | ||
SL15 | 15 mm² | 15 x 1 mm | 15 µm | 60 kΩ | 0.4 A/W | 150 nm | 15 pF | 0.60 µs | 25-PIN DIP | ||
SL30 | 120 mm² | 30 x 4 mm | 30 µm | 40 kΩ | 0.4 A/W | 150 nm | 125 pF | 1.00 µs | Ceramic | ||
SL76-1 | 190 mm² | 76 x 2.5 mm | 76 µm | 120 kΩ | 0.4 A/W | 100 nm | 190 pF | 14.00 µs | Special | ||
DUO-LATERAL POSITION SENSING DETECTORS (PSD) TWO-DIMENSIONAL | |||||||||||
DL-2 | 4 mm² | 2 x 2 mm | 30 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 30 nm | 10 pF | 0.03 µs | TO-8 | ||
DLS-2 | 4 mm² | 2 x 2 mm | 30 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 10 nm | 8 pF | 0.03 µs | TO-8 | ||
DLS-2S | 4 mm² | 2 x 2 mm | 30 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 10 nm | 8 pF | 0.03 µs | TO-5 | ||
DL-4 | 16 mm² | 4 x 4 mm | 50 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 50 nm | 35 pF | 0.08 µs | TO-8 | ||
DLS-4 | 16 mm² | 4 x 4 mm | 50 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 25 nm | 30 pF | 0.08 µs | TO-8 | ||
DL-10 | 100 mm² | 10 x 10 mm | 100 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 500 nm | 175 pF | 0.20 µs | Special | ||
DL-20 | 400 mm² | 20 x 20 mm | 200 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 2000 nm | 600 pF | 1.00 µs | Special | ||
DLS-10 | 100 mm² | 10 x 10 mm | 100 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 50 nm | 160 pF | 0.20 µs | Ceramic | ||
DLS-20 | 400 mm² | 20 x 20 mm | 200 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 100 nm | 580 pF | 1.20 µs | Ceramic | ||
DL-10C | 100 mm² | 10 x 10 mm | 100 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 500 nm | 175 pF | 0.60 µs | Ceramic | ||
DL-20C | 400 mm² | 20 x 20 mm | 200 µm | 5 kΩ | 0.4 A/W | 2000 nm | 600 pF | 1.00 µs | Ceramic |
OSI社のアイレスポンスディテクターは高品質の色補正フィルターを使用したブルーエンハンスドディテクターです。
その結果、人間の目に近いスペクトル応答が得られます。
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Active Area Dimensions | Responsivity | Dark Current | Capacitance | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
OSD1-E | 1 mm² | 1.0 x 1.0 mm | 2.2 nA /Lux | 0.2 nA | 35 pF | TO-18 | ||
ODS3-E | 3 mm² | 2.5 x 1.2 mm | 6.6 nA /Lux | 0.5 nA | 80 pF | TO-18 | ||
OSD5-E | 5 mm² | 2.5 Φ mm | 11 nA /Lux | 0.5 nA | 130 pF | TO-5 | ||
OSD15-E | 15 mm² | 3.8 x 3.8 mm | 33 nA /Lux | 2 nA | 390 pF | TO-5 | ||
OSD60-E | 100 mm² | 11.3 Φ mm | 56 nA /Lux | 8 nA | 2500 pF | TO-8 |
大面積の高速ディテクターは高速応答のために可能な限り低いジャンクション容量を達成するため、完全に空乏化することができます。
また、最大許容値まで高い逆バイアスで動作させ、ナノ秒単位の高速応答を実現することも可能です。
この時の高い逆バイアスにより、接合部の有効電界が増加し、空乏領域での電荷収集時間が長くなります。
これは高応答性とアクティブ領域を犠牲にすることなく達成されます。
大面積放射線ディテクターは高エネルギーX線、Y線、電子、アルファ線、重イオンなどの高エネルギー粒子を測定するアプリケーションのために、完全に空乏化することも可能です。
これらの放射線は間接的な方法と直接的な方法の2つの異なる方法で測定することができます。
1)大面積高速ディテクター
2)大面積放射線ディテクター
1)大面積高速ディテクター
2)大面積放射線ディテクター
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Peak Wavelength | Responsivity @900 nm | Dark Current | Shunt Resistance | Capacitance | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
OSD35-LR-A* | 34.2 mm² | 830 nm | 0.54 A/W | – | 3 GΩ | 1300 pF | Ceramic | ||
OSD35-LR-D* | 34.2 mm² | 830 nm | 0.54 A/W | – | 0.3 GΩ | 1300 pF | Ceramic | ||
PIN-RD07 | 7.1 mm² | 900 nm | 0.55 A/W | 0.2 nA | – | 8.0 pF | TO-8 | ||
PIN-RD15 | 14.9 mm² | 900 nm | 0.58 A/W | 1.0 nA | – | 14 pF | TO-8 | ||
PIN-RD100 | 100 mm² | 950 nm | 0.60 A/W | 2 nA | – | 50 pF | Ceramic | ||
PIN-RD100A | 100 mm² | 950 nm | 0.60 A/W | 2 nA | – | 40 pF | Ceramic |
OSI社の高速シリコンシリーズは高速応答や高帯域幅のアプリケーションに最適化された小面積デバイスです。
BPX-65は他のハイスピードシリーズを補完する、業界標準のデバイスです。
これらのデバイスのスペクトル範囲は350nm~1100nmまでです。
応答性と応答時間は最適化されており、HRシリーズは800nmで0.50 A/Wのピーク応答性と-5Vで数百ピコ秒の標準応答時間を実現しています。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area Dimensions | Responsivity @830nm (Typ) | Dark Current | Capacitance | Rise Time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
FCI-HR005 | 0.127 Φ mm | 0.5 A/W | 0.03 nA | 0.8 pF | 0.75 ns | TO-18 | ||
FCI-HR008 | 0.203 Φ mm | 0.5 A/W | 0.03 nA | 0.8 pF | 0.75 ns | TO-18 | ||
FCI-HR020 | 0.508 Φ mm | 0.5 A/W | 0.06 nA | 1.8 pF | 1 ns | TO-18 | ||
FCI-HR026 | 0.66 Φ mm | 0.5 A/W | 0.01 nA | 2.6 pF | 1.1 ns | TO-18 | ||
FCI-HR040 | 0.991 Φ mm | 0.5 A/W | 0.3 nA | 4.9 pF | 1.2 ns | TO-18 | ||
BPX-65 | 1.0 sq mm | 0.5 A/W | 0.5 nA | 3 pF | 2 ns | TO-18 |
マルチチャンネルアレイフォトディテクターは複数の単体フォトダイオードを隣接して配置し、共通のカソード基板上に一次元の受光領域を形成したものです。
移動ビームや多波長ビームの同時計測が可能です。
また、電気的クロストークが少なく、隣接する素子間の均一性が非常に高いため、高精度な測定が可能です。
アレイは多数のディテクターが必要な場合に低コストで使用できる代替手段です。
ディテクターは紫外、可視、近赤外域のいずれかに最適化されています。
応答時間を短縮するためにフォトコンダクティブモード(逆バイアス)、または低ドリフトのアプリケーションのためにフォトボルティックモード(非バイアス)で動作させることができます。
A2V-16はX線およびガンマ線領域の高エネルギーフォトンを測定するために、あらゆるシンチレータ結晶と結合することができます。
また、機械的に設計されているため、16個以上の素子が必要なアプリケーションでは複数個を互いに端から端まで装着することができます。
Image | Datasheet | Model Number | Active Area Diameter Per Element | Number of Elements | Pitch | Responsivity at 1550 nm | Dark Current | Capacitance |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
A2V-16 | 75µm | 16 | 1.59 mm | 0.60 A/W | – | 170 pF | ||
A5C-35 | 75µm | 35 | 0.99 mm | 0.65 A/W | 0.05 nA | 12 pF | ||
A5V-35 | 75µm | 35 | 0.99 mm | 0.60 A/W | – | 340 pF | ||
A5V-35UV | 75µm | 35 | 0.99 mm | 0.06 A/W @ 254nm | – | 340 pF | ||
A5C-38 | 75µm | 38 | 0.99 mm | 0.65 A/W | 0.05 nA | 12 pF | ||
A5C-38 | 75µm | 38 | 0.99 mm | 0.60 A/W | – | 340 pF | ||
A5C-76 | 75µm | 76 | 0.31 mm | 0.50 A/W | – | 160 pF |
このシリーズは16素子アレイで構成されており、個々の素子はグループ化され、PCBにマウントされています。
X線またはガンマ線アプリケーションのために、これらのマルチチャンネルディテクターはシンチレータマウントのオプション(BGO、CdWO4、CsI(TI))を提供します。
BGO (Bismuth Germanate) :理想的なエネルギー吸収体として、高エネルギー検出アプリケーションに広く受け入れられています。
CdWO4 (Cadmium Tungstate) :十分な光量を示し、スペクトロメトリの結果を向上させることができます。
CsI (Cesium Iodide) :高いエネルギー吸収能を持ち、機械的衝撃や熱ストレスに対して十分な耐性を備えています。
このシリコンアレイはシンチレータと組み合わせることで、中・高エネルギーの放射線を散乱効果により可視光に変換することができます。
また、特殊設計のプリント基板により、エンド・ツー・エンドの接続が可能です。複数のアレイを使用することで、より大規模なアセンブリが必要な場合にも対応できます。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Number of Elements | Active Area per Element | Element Size | Pitch | Responsivity | Dark Current | Capacitance | Rise Time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
A2C-16-1.57 | 16 | 2.35 mm | 2.00 x 1.18 mm | 1.57 mm | 0.59 A/W | 5 pA | 28 pF | 0.1 µs | PCB |
フォトコンダクティブフォトダイオードシリーズは高速・高感度なアプリケーションに適しています。
波長帯域は350~1100nmでパルスレーザー光源、LED、チョップドライトなどのACアプリケーションを含む可視および近赤外アプリケーションに最適なフォトダイオードです。
高速動作させるためには逆バイアスが必要です。
例えば、10Vの逆バイアスで10ns~250nsの応答時間を達成することができます。
逆バイアスをかけると静電容量が減少し、そのまま高速化につながります。
仕様表に示すように、逆バイアスは 30Vを超えないようにしてください。
これより高いバイアス電圧はディテクターに永久的な損傷を与える結果となります。
逆バイアスは暗電流を生成するので、デバイスのノイズはバイアスの印加とともに増加します。
より低ノイズの検出器はフォトボルティックシリーズをご検討ください。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Peak Wavelength | Responsivity | Dark Current | Capacitance | Rise Time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
OSD1-0 | 1 mm² | 900 nm | 0.54 A/W | 1.5 pF | 3 pF | 10 ns | TO-18 | ||
OSD5-0 | 5 mm² | 900 nm | 0.54 A/W | 1 nA | 8 pF | 8 ns | TO-5 | ||
OSD15-0 | 15 mm² | 900 nm | 0.54 A/W | 5 nA | 20 pF | 9 ns | TO-5 | ||
OSD35-0 | 35 mm² | 900 nm | 0.54 A/W | 8 nA | 46 pF | 12 ns | TO-8 | ||
OSD60-0 | 58 mm² | 900 nm | 0.54 A/W | 12 nA | 75 pF | 14 ns | TO-8 | ||
OSD100-0A | 100 mm² | 900 nm | 0.54 A/W | 15 nA | 130 pF | 19 ns | Special | ||
PIN-020A | 0.20 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 30 nA | 1 pF | 6 ns | TO-18 | ||
PIN-040A | 0.81 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.01 nA | 2 pF | 8 ns | TO-18 | ||
PIN-2DI ‡ | 1.1 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.05 nA | 5 pF | 10 ns | TO-18 | ||
PIN-3CD | 3.2 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.1 nA | 12 pF | 10 ns | TO-18 | ||
PIN-3CDI | 3.2 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.15 nA | 12 pF | 10 ns | TO-18 (Isolated) | ||
PIN-5D | 5.1 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.15 nA | 15 pF | 10 ns | TO-5 | ||
PIN-5DI | 5.1 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.25 nA | 15 pF | 10 ns | TO-5 (Isolated) | ||
PIN-13D | 13 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.35 nA | 40 pF | 12 ns | TO-5 | ||
PIN-13DI | 13 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.35 nA | 40 pF | 14 ns | TO-5 (Isolated) | ||
PIN-6D | 16.4 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.5 nA | 60 pF | 17 ns | TO-8 | ||
PIN-6DI | 16.4 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 0.5 nA | 60 pF | 17 ns | TO-8 (Isolated) | ||
PIN-44D | 44 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 1 nA | 130 pF | 17 ns | TO-8 | ||
PIN-44DI | 44 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 1 nA | 130 pF | 24 ns | TO-8 (Isolated) | ||
PIN-10D | 100 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 2 nA | 300 pF | 43 ns | BNC | ||
PIN-10DI | 100 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 2 nA | 300 pF | 43 ns | Low Profile | ||
PIN-25D | 613 mm² | 970 nm | 0.65 A/W | 15 nA | 1800 pF | 250 ns | BNC |
FCI-H125G-010 は短波長 (850nm) 高速光ファイバーデータ通信用に設計された低ノイズ、高帯域のフォトディテクターとトランスインピーダンスアンプのハイブリッド製品です。
直径250μmの大面積・高感度シリコンフォトダイオードを搭載しています。
また、電気光学レシーバーやトランシーバーに使用されるポストアンプにラッチするための差動出力電圧を生成する高ゲインのトランスインピーダンスアンプを内蔵しており、マルチモードファイバ上で最大 1.25Gbpsのギガビットイーサネットおよびファイバチャネルアプリケーションに対応しています。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Active Area Diameter | Supply Voltage | Supply Current | Operating Wavelength | Responsivity | Transimpedence | Sensitivity | Optical Overload (min) | Bandwidth | Differential Output | Output Impedence | Input Optical Power | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
250 µm | +3 to +5.5 V |
38 mA |
850 nm |
3000 V/W -19dBm; Differential |
8300 Ω -19dBm; Differential |
-23 dBm BER 10-10; PRBS27-1 |
-3 dBm |
1000 MHz -3dBm; Small Signal |
200 mVp-p |
50 Ω |
+5 dBm |
TO-18 |
||
250 µm |
+3 to +5.5 V |
38 mA |
850 nm |
3000 V/W -19dBm; Differential |
8300 Ω -19dBm; Differential |
-23 dBm BER 10-10; PRBS27-1 |
-3 dBm |
1000 MHz -3dBm; Small Signal |
200 mVp-p |
50 Ω |
+5 dBm |
TO-18 Lensed |
Photop™シリーズはフォトダイオードとオペアンプを同じパッケージに組み合わせたものです。
Photops™汎用検出器のスペクトル範囲は350nm~1100nmまたは200nm~1100nmです。
また、様々な動作条件下で低ノイズ出力を保証する一体化型パッケージを備えています。
これらのオペアンプはOSI社のエンジニアによってフォトダイオードとの互換性を考慮して特別に選択されています。
これらの特定のパラメータの多くには、低ノイズ、低ドリフト、および外部フィードバックコンポーネントによって決定されるさまざまなゲインと帯域幅をサポートする機能があります。
DCレベルから数MHzまでの動作は低速、低ドリフトアプリケーション向けの非バイアス構成、または高速応答時間向けのバイアス構成のいずれかで可能です。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Supply Voltage | Supply Current | Input Offset Voltage | Temp. Coefficient I/P Offset Voltage | Input Bias Current | Gain Bandwidth Product | Slew Rate | DC Gain |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
UDT-455 | ± 15 V | 2.8 mA | 0.5 mV | 4 µV/°C | ± 80 pA | 5.4 MHz | 9 V/µs | 200 V/mV | ||
UDT-455UV | ± 15 V | 2.8 mA | 0.5 mV | 4 µV/°C | ± 80 pA | 5.4 MHz | 9 V/µs | 200 V/mV | ||
UDT-020D | ± 15 V | 2.8 mA | 0.5 mV | 4 µV/°C | ± 80 pA | 5.4 MHz | 9 V/µs | 200 V/mV | ||
OSI-020UV | ± 15 V | 1.8 mA | 0.03 mV | 0.35 µV/°C | 0.5 pA | 5.1 MHz | 20 V/µs | 2000 V/mV | ||
OSI-515 | ± 15 V | 6.5 mA | 1 mV | 10 µV/°C | ± 15 pA | 26 MHz | 140 V/µs | 6.3 V/mV | ||
UDT-555UV/LN | ± 15 V | 2.5 mA | 0.1 mV | ± 2 µV/°C | ± 0.8 pA | 2 MHz | 2 V/µs | 1778 V/mV | ||
UDT-055UV | ± 15 V | 2.7 mA | 0.4 mV | ± 3 µV/°C | ± 40 pA | 5.7 MHz | 11 V/µs | 220 V/mV | ||
UDT-555D | ± 15 V | 2.7 mA | 0.4 mV | ± 3 µV/°C | ± 40 pA | 5.7 MHz | 11 V/µs | 220 V/mV | ||
UDT-555UV | ± 15 V | 2.7 mA | 0.4 mV | ± 3 µV/°C | ± 40 pA | 5.7 MHz | 11 V/µs | 220 V/mV |
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Active Area Dimensions | Spectral Range | Responsivity | Capacitance | Dark Current | Shunt Resistance | Reverse Bias Max | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
UDT-455 | 5.1 mm² | 2.54 Φ | 350 – 1100 nm | 0.65 A/W | 15 pF | 0.25 nA | – | 30 V | TO-5 | ||
OSI-515 | 5.1 mm² | 2.54 Φ | 350 – 1100 nm | 0.65 A/W | 15 pF | 0.25 nA | – | 30 V | TO-5 | ||
UDT-020D | 16 mm² | 4.57 Φ | 350 – 1100 nm | 0.65 A/W | 60 pF | 0.5 nA | – | 30 V | TO-8 | ||
UDT-555D | 100 mm² | 11.3 Φ | 350 – 1100 nm | 0.65 A/W | 300 pF | 2 nA | – | 30 V | Special | ||
UDT-455UV | 5.1 mm² | 2.54 Φ | 200 – 1100 nm | 0.14 A/W | 300 pF | – | 100 MΩ | 5 V | TO-5 | ||
UDT-020UV | 16 mm² | 4.57 Φ | 200 – 1100 nm | 0.14 A/W | 1000 pF | – | 50 MΩ | 5 V | TO-8 | ||
UDT-055UV | 50 mm² | 7.98 Φ | 200 – 1100 nm | 0.14 A/W | 2500 pF | – | 10 MΩ | 5 V | Special | ||
UDT-555UV | 100 mm² | 11.3 Φ | 200 – 1100 nm | 0.14 A/W | 4500 pF | – | 10 MΩ | 5 V | Special | ||
UDT-555UV / LN | 100 mm² | 11.3 Φ | 200 – 1100 nm | 0.14 A/W | 4500 pF | – | 10 MΩ | 5 V | Special |
フォトボルティックシリーズは高感度と適度な応答速度を必要とするアプリケーションに使用され、ブルーエンハンスドシリーズでは可視~青色領域での感度を追加しています。
分光感度特性は350~1100nmで、通常の光電変換デバイスは可視および近赤外域のアプリケーションに最適です。
350nm~550nmの領域でさらなる感度を求める場合はブルーエンハンスドデバイスがより適しています。
これらのディテクターは高いシャント抵抗と低ノイズを持ち、長期的な安定性を示しています。
これらのディテクターの偏りのない動作は、DCまたは低速アプリケーションでの幅広い温度変動下での安定性に優れています。
高い光レベル (10mW/cm2 を超える) の場合、直線性を向上させるためにフォトコンダクティブシリーズのディテクターをご検討ください。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Peak Wavelength | Responsivity | Shunt Resistance | Capacitance | Rise Time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
CD-1705 | 0.88 mm² | 850 nm | 0.6 A/W | 10 GΩ | 70 pF | 2000 ns | Plastic | ||
PIN-2DPI ‡ | 1.1 mm² | 970 nm | 0.6 A/W | 10 GΩ | 150 pF | 30 ns | TO-18 | ||
PIN-125DPL | 1.6 mm² | 970 nm | 0.6 A/W | 10 GΩ | 160 pF | 30 ns | TO-18 | ||
PIN-3CDP | 3.2 mm² | 970 nm | 0.6 A/W | 5.0 GΩ | 320 pF | 50 ns | TO-18 | ||
PIN-3CDPI | 3.2 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 5.0 GΩ | 320 pF | 50 ns | TO-18 | ||
PIN-5DP | 5.1 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 4 GΩ | 500 pF | 60 ns | TO-5 | ||
PIN-5DPI | 5.1 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 4 GΩ | 500 pF | 60 ns | TO-5 | ||
PIN-13DP | 13 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 3.5 GΩ | 1200 pF | 150 ns | TO-5 | ||
PIN-13DPI | 13 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 3.5 GΩ | 1200 pF | 150 ns | TO-5 | ||
PIN-6DP | 16.4 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 2 GΩ | 2000 pF | 220 ns | TO-8 | ||
PIN-6DPI | 16.4 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 2 GΩ | 2000 pF | 220 ns | TO-8 | ||
PIN-44DP | 44 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 1.0 GΩ | 4300 pF | 475 ns | TO-8 | ||
PIN-44DPI | 44 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 1.0 GΩ | 4300 pF | 475 ns | TO-8 | ||
PIN-10DP | 100 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 0.20 GΩ | 9800 pF | 1000 ns | BNC | ||
PIN-10DPI | 100 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 0.20 GΩ | 9800 pF | 1000 ns | Low Profile | ||
PIN-220DP | 200 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 0.20 GΩ | 20000 pF | 2200 ns | Plastic | ||
PIN-25DP | 613 mm² | 970 nm | 0.60 A/W | 0.1 GΩ | 60000 pF | 6600 ns | BNC |
OSI社は高品質・高信頼性のプラスチック封止型フォトダイオードをラインアップしています。これらのモールドデバイスはフラット、レンズ付きサイドルッカーのほか、表面実装バージョン(SOT- 23)など、さまざまな形状のフォトディテクターとパッケージで利用可能です。
過酷な環境下でのPCBや携帯機器への搭載に優れています。
近赤外スペクトルに優れた応答性を持ち、700~1100nmの範囲のみを透過する可視ブロッキング化合物も利用可能です。
高速スイッチング時間、低キャパシタンス、低暗電流を実現しています。
フォトコンダクティブモードとフォトボルティックモードの両方で使用することができます。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Active Area Dimensions | Responsivity @ 970nm | Dark Current | Capacitance | Rise Time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
BPW-34 | 7.25 mm² | 2.69 x 2.69 mm | 0.6 A/W | 2 nA | 12 pF | 20 ns | Plastic Mold | ||
BPW-34B | 7.25 mm² | 2.69 x 2.69 mm | – | 2 nA | 12 pF | 20 ns | Plastic Mold | ||
PIN-0.81-CSL | 0.81 mm² | 1.02 x 1.02 mm | 0.55 A/W | 2 nA | 10 pF | 11 ns | Resin Mold | ||
PIN-0.81-LLS | 0.81 mm² | 1.02 x 1.02 mm | 0.55 A/W | 2 nA | 10 pF | 11 ns | Leadless Ceramic | ||
PIN-4.0-CSL | 3.9 mm² | 2.31 x 1.68 mm | 0.55 A/W | 5 nA | 60 pF | 11 ns | Resin Mold | ||
PIN-4.0-LLS | 3.9 mm² | 2.31 x 1.68 mm | 0.55 A/W | 5 nA | 60 pF | 11 ns | Leadless Ceramic | ||
PIN-07-CSL | 8.1 mm² | 2.84 x 2.84 mm | 0.55 A/W | 5 nA | 85 pF | 50 ns | Resin Mold | ||
PIN-07-FSL | 8.1 mm² | 2.84 x 2.84 mm | 0.55 A/W | 5 nA | 85 pF | 50 ns | Resin Mold | ||
PIN-07-CSLR | 8.1 mm² | 2.84 x 2.84 mm | 0.55 A/W | 5 nA | 85 pF | 50 ns | Resin Mold | ||
PIN-07-FSLR | 8.1 mm² | 2.84 x 2.84 mm | 0.55 A/W | 5 nA | 85 pF | 50 ns | Resin Mold | ||
PIN-08-CSL-F | 8.4 mm² | 2.90 x 2.90 mm | – | 10 nA | 25 pF | 75 ns | Resin Mold | ||
PIN-8.0-CSL | 8.4 mm² | 2.90 x 2.90 mm | 0.55 A/W | 10 nA | 100 pF | 50 ns | Resin Mold | ||
PIN-8.0-LLS | 8.4 mm² | 2.90 x 2.90 mm | 0.55 A/W | 10 nA | 100 pF | 50 ns | Leadless Ceramic | ||
PIN-16-CSL | 16 mm² | 4.00 x 4.00 mm | 0.55 A/W | 5 nA | 330 pF | 100 ns | Resin Mold |
SPOTシリーズは2つまたは4つのアクティブエリアに分割された共通基板のフォトディテクターです。
隣接する素子間のギャップは0.005 “または0.0004 “で、素子間で高い応答均一性を実現しています。
SPOTシリーズは非常に精度の高いヌリングやセンタリング用途に最適です。
光スポットの直径がセル間の間隔より大きい場合、位置情報を得ることができます。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area per Element | Active Area Dimensions Per Element | Element Gap | Responsivity | Dark Current | Capacitance | Rise Time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Two Element Bi-Cell | ||||||||||
CD-25T | 2.3 mm² | 4.6 x 0.5 mm | 0.02 mm | 0.65 A/W | 20 nA (VR = 15 V) | 50 pF (VR = 15 V) | 18 ns | TO-5 | ||
SPOT-2D | 3.3 mm² | 1.3 x 2.5 mm | 0.127 mm | 0.65 A/W | 0.15 nA | 11 pF | 22 ns | TO-5 | ||
SPOT-2DMI | 0.7 mm² | 0.6 x 1.2 mm | 0.013 mm | 0.65 A/W | 0.05 nA | 3 pF | 11 ns | TO-18 | ||
SPOT-3D | 2.8 mm² | 0.6 x 4.6 mm | 0.025 mm | 0.65 A/W | 0.13 nA | 7 pF | 25 ns | TO-5 | ||
Four Element Quadrant | ||||||||||
SPOT-4D | 1.6 mm² | 1.3 mm | 0.127 mm | 0.65 A/W | 1 nA | 5 pF | 22 ns | TO-5 | ||
SPOT-4DMI | 0.3 mm² | 0.5 mm | 0.013 mm | 0.65 A/W | 0.01 nA | 1 pF | 9 ns | TO-5 | ||
SPOT-9D | 19.6 mm² | 10 Φ mm | 0.102 mm | 0.65 A/W | 0.5 nA | 60 pF | 33 ns | Low Profile | ||
SPOT-9DMI | 19.6 mm² | 10 Φ mm | 0.01 mm | 0.65 A/W | 0.5 nA | 60 pF | 28 ns | Low Profile | ||
QD7-0 | 7.0 mm² | 3.0 Φ mm | 0.2 mm | 0.54 A/W | 4 nA | 20 pF | 10 ns | TO-5 | ||
QD50-0 | 50.0 mm² | 8.0 Φ mm | 0.2 mm | 0.54 A/W | 15 nA | 125 pF | 10 ns | TO-8 |
QD7-0-SDまたはQD50-0-SDは2つの差分信号と合計信号を提供する関連回路を備えたクワドラント(4分割)フォトダイオードアレイです。
2つの差分信号はフォトダイオード4分割素子の対向するペアによって感知された光の相対強度差の電圧アナログです。
さらに、4つの象限素子すべての増幅された合計が、和信号として出力されます。
このため、QD7-0-SDおよびQD50-0-SDは、光ビームヌリングと位置決めの両方のアプリケーションに理想的です。
非常に精密な光ビームアライメントが可能であり、この回路はターゲット捕捉やアライメントにも使用することができます。
QD50-0およびQD7-0は単体の象限儀フォトダイオードを指してます。
和と差のモジュールの構成にはそれぞれQD50-0-SDおよびQD7-0-SDの50mm2および 7mm2バージョンが必要です。
出力は次のように定義されます。
ixは象限xからの電流です。
VT-B = -{(i1+i2) – (i3+i4)} x (104)
VL-R = -{(i2+i3) – (i1+ i4)} x (104)
VSUM = -{(i1+i2 + i3 + i4)} x (104)
Image | Datasheet | Model Number | Power supply | Photoiode Bias | Output Voltage (max.) | Frequency Response at -3dB | Slew Rate (max.) | Output Current Limit | Theoretical noise |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
QDXX-0-SD* | ±4.5 to ±18 V | 0.91 x VPDBIAS | -3 to +3 V | 250 kHz | 10 V/µs | 25 mA | 15 nV/Hz½ |
R&D100 Award受賞のX-UV検出器シリーズはシンチレータ結晶やスクリーンを使用せずに、電磁スペクトルのX線領域で感度を高めるために設計されたユニークなシリコンフォトダイオードシリーズです。
0.07nm~200nm(6eV~17.6KeV)の広いスペクトル範囲に感度を持ち、入射エネルギー3.63eVあたり1個の電子-正孔ペアが生成されるため、非常に高い安定量子効率に相当します。
逆バイアスをかけると静電容量が減少し、応答速度が向上します。
バイアスがかかっていない状態では、低ノイズ、低ドリフトのアプリケーションに適しています。
また、350~1100nmの波長の光を検出するのにも適しています。
17.6keV以上の放射線エネルギーの測定には、完全空乏型放射線ディテクターシリーズを参照してください。
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Active Area Dimensions | Shunt Resistance | Capacitance | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|
XUV-005 | 5 mm² | 2.57 Φ mm | 2000 MΩ | 0.3 nF | TO-5 | ||
XUV-020 | 20 mm² | 5.00 Φ mm | 500 MΩ | 1.2 nF | TO-8 | ||
XUV-035 | 35 mm² | 6.78 x 5.59 mm | 300 MΩ | 2 nF | TO-8 | ||
XUV-100 | 100 mm² | 11.33 Φ mm | 100 MΩ | 6 nF | BNC | ||
XUV-50C | 50 mm² | 8.02 Φ mm | 200 MΩ | 2 nF | Ceramic | ||
XUV-100C | 100 mm² | 10 x 10 mm | 100 MΩ | 6 nF | Ceramic |
はんだ付け可能なフォトダイオードチップシリーズは大面積の受光素子を必要とするアプリケーションに低コストで対応できる製品です。
低キャパシタンス、中程度の暗電流、広いダイナミックレンジ、高い開回路電圧を持っています。
これらのディテクターは2本の3インチ長のリードが前面(陽極)と背面(陰極)にはんだ付けされています。
フォトダイオードチップには2つのタイプがあります。
フォトコンダクティブシリーズ(SXXCL):低容量で高速応答
フォトボルティックシリーズ(SXXVL):低ノイズアプリケーション向け
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Chip Size | Active Area | Active Area Dimensions | Peak Wavelength | Responsivity | Dark Current | Shunt Resistance | Capacitance |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Photoconductive | ||||||||||
S-4CL | 1.9 x 4.1 mm | 4.7 mm² | 1.7 x 2.8 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 20 nA | – | 15 pF | ||
S-10CL | 2.5 x 5.1 mm | 9.6 mm² | 2.3 x 4.2 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 40 nA | – | 30 pF | ||
S-25CRL | 3.4 x 10.5 mm | 25.4 mm² | 2.5 x 10.1 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 100 nA | – | 95 pF | ||
S-25CL | 5.5 x 6.0 mm | 25.8 mm² | 5.1 x 5.1 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 100 nA | – | 95 pF | ||
S-50CL | 3.4 x 20.6 mm | 51 mm² | 2.5 x 20.3 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 300 nA | – | 200 pF | ||
S-80CL | 5.2 x 20.4 mm | 82.6 mm² | 4.1 x 20.1 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 500 nA | – | 300 pF | ||
S-100CL | 10.5 x 11.00 mm | 93.4 mm² | 9.7 x 9.7 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 600 nA | – | 375 pF | ||
S-120CL | 5.5 x 23.9 mm | 105.7 mm² | 4.5 x 23.5 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 800 nA | – | 450 pF | ||
S-200CL | 10.2 x 21.0 mm | 189 mm² | 9.2 x 20.7 mm | 970 nm | 0.65 A/W | 1200 nA | – | 750 pF | ||
Photovoltaic | ||||||||||
S-4VL | 1.9 x 4.1 mm | 4.7 mm² | 1.7 x 2.8 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 10 MΩ | 370 pF | ||
S-10VL | 2.5 x 5.1 mm | 9.6 mm² | 2.3 x 4.2 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 8 MΩ | 750 pF | ||
S-25VL | 5.5 x 6.0 mm | 25.8 mm² | 5.1 x 5.1 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 5 MΩ | 2100 pF | ||
S-25VRL | 3.4 x 10.5 mm | 25.4 mm² | 2.5 x 10.1 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 5 MΩ | 2100 pF | ||
S-50VL | 3.4 x 20.6 mm | 51 mm² | 2.5 x 20.3 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 3 MΩ | 4000 pF | ||
S-80VL | 5.2 x 20.4 mm | 82.6 mm² | 4.1 x 20.1 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 2 MΩ | 6000 pF | ||
S-100VL | 10.5 x 11.00 mm | 93.4 mm² | 9.7 x 9.7 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 1 MΩ | 8500 pF | ||
S-120VL | 5.5 x 23.9 mm | 105.7 mm² | 4.5 x 23.5 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 0.5 MΩ | 10000 pF | ||
S-200VL | 10.2 x 21.0 mm | 189 mm² | 9.2 x 20.7 mm | 970 nm | 0.65 A/W | – | 0.2 MΩ | 17000 pF |
テトララテラルポジションセンシングディテクターは一次元と二次元の両方の測定用に1つの単一抵抗層で製造されています。
一次元の位置検出には共通の陽極と2つの陰極、二次元の位置検出には4つの陰極を備えています。
これらのディテクターは広い空間範囲での測定が必要なアプリケーションで使用する場合に最適です。
高い応答均一性、低い暗電流、検出領域の64%以上にわたる良好な位置直線性を提供します。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area Diameter | Active Area | Gain | Responsivity @ Gain M | Dark Current @ Gain M | Capacitance | Bandwidth @ Gain M 800nm | Breakdown Voltage | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
TETRA-LATERAL POSITION SENSING DETECTORS (PSD) ONE-DIMENSIONAL | |||||||||||
LSC-5D | 11.5 mm² | 5.3 x 2.2 mm | 0.04 µm | 2 kΩ | 0.42 A/W | 10 nA | 50 pF | 0.25 µs | Plastic Mold | ||
LSC-30D | 122 mm² | 30 x 4.1 mm | 0.24 µm | 4 kΩ | 0.42 A/W | 25 nA | 300 pF | 3 µs | Plastic Mold | ||
TETRA-LATERAL POSITION SENSING DETECTORS (PSD) TWO-DIMENSIONAL | |||||||||||
SC-4D | 6.45 mm² | 2.54 x 2.54 mm | 0.08 µm | 3 kΩ | 0.42 A/W | 5 nA | 20 pF | 0.66 µs | TO-5 | ||
SC-10D | 103 mm² | 10.16 x 10.16 mm | 1.3 µm | 3 kΩ | 0.42 A/W | 25 nA | 300 pF | 1 µs | Special | ||
SC-25D | 350 mm² | 18.80 x 18.80 mm | 2.5 µm | 3 kΩ | 0.42 A/W | 100 nA | 1625 pF | 5 µs | Special | ||
SC-50D | 957 mm² | 30.94 x 30.94 mm | 5 µm | 3 kΩ | 0.42 A/W | 250 nA | 3900 pF | 5 µs | Special |
PIN-4X4Dは4×4配列のスーパーブルーエンハンスドフォトディテクターです。
OSI社独自の設計により、16個の素子間が実質的に完全に分離しています。
標準的なLCCパッケージにより、表面実装アプリケーションに簡単に組み込むことができます。
多くのアプリケーションには比率や散乱の測定、位置検出が含まれます。
カスタムパッケージ、特殊な電気光学的要件、またはこれらの部品を金型でご希望の場合はお問い合わせください。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area per Element | Active Area Dimensions Per Element | Crosstalk | Peak Wavelength | Responsivity @900 nm | Shunt Resistance | Capacitance | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
PIN-4X4D | 1.96 mm² | 1.4 x 1.4 mm | 1% | 850 nm | 0.35 A/W | 0.01 MΩ | 75 pF | Ceramic LCC | ||
UDT-4X4D | 1.0 mm² | 1.0 x 1.0 mm | 0.02% | 810 nm | 0.40 A/W | 0.01 MΩ | 75 pF | Ceramic LCC |
2色サンドイッチディテクターまたは2色ディテクターは、遠隔温度測定に多く採用されています。
隣接する2つの波長の放射強度の比を取り、標準的な黒体放射曲線と比較することで温度を測定します。
光学式リモート測定の利点により、これらのデバイスはこのタイプの測定に最適です。放射率に依存せず、視野内の汚染物質や動くターゲットの影響を受けません。
さらに、直接の視線から外れたターゲットの測定や、RF/EMI干渉や真空領域の外から機能させることも可能です。
また、視界を遮るもの、サイトチューブ、チャンネル、スクリーンなどの障害物、大気中の煙、蒸気、ほこり、窓の汚れ、視野より小さいターゲットや視野内で移動するターゲットを検出する利点があります。
また、広い波長域の検出が必要なアプリケーションにも使用できます。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Detector Element | Active Area | Spectral Range | Peak Wavelength | Responsivity | Shunt Resistance | Capacitance | Rise Time | Reverse Voltage | Detectivity at Peak | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
PIN-DSIn | Si (top) | 2.54 mm² | 400 – 1100 nm | 950 nm | 0.55 A/W | 150 MΩ | 450 pF | 4 µs | 5 V | 1.2 x 1013 cm√Hz/W | TO-5 | ||
InGaAs (Bottom) | 1.50 mm² | 1000 – 1800 nm | 1300 nm | 0.6 A/W | 1 MΩ | 300 pF | 4 µs | 2 V | 8.4 x 1011 cm√Hz/W | TO-5 | |||
PIN-DSS | Si (top) | 2.54 mm² | 400 – 1100 nm | 950 nm | 0.45 A/W § | 500 MΩ | 70 pF | 10 µs | 5 V | 1.7 x 1013 cm√Hz/W | TO-5 | ||
Si (bottom) | 2.54 mm² | 950 – 1100 nm | 1060 nm | 0.12 A/W | 500 MΩ | 70 pF | 150 µs | 5 V | 4.7 x 1012 cm√Hz/W | TO-5 |
OSI社はUVエンハンスドシリコンフォトダイオードの2つの異なるシリーズ(反転チャネルシリーズとプレーナー拡散シリーズ)を提供しています。
両シリーズは特に電磁波スペクトルの紫外領域で低ノイズ検出を行うために設計されています。
反転層構造のUVエンハンスドフォトダイオードは内部量子効率が100%であり、低照度光測定に適しています。
また、高シャント抵抗、低ノイズ、高ブレークダウン電圧の特性を有しています。
5~10Vの逆バイアスを印加することで、表面全体の応答均一性と量子効率が改善されます。
フォトボルティックモード(非バイアス)では拡散デバイスよりも静電容量が高いですが、逆バイアスをかけると急速に減少します。
光電流の非直線性は拡散型デバイスに比べて反転型デバイスの方が低い光電流で発生します。
700nm以下ではその応答性は温度によってほとんど変化しません。
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Responsivity @ 254nm | Shunt Resistance | Capacitance | Rise Time | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
UV-005 | 5.1 mm² | 0.14 A/W | 200 MΩ | 300 pF | 0.9 µs | TO-5 | ||
UV-015 | 15 mm² | 0.14 A/W | 100 MΩ | 800 pF | 2 µs | TO-5 | ||
UV-20 | 20 mm² | 0.14 A/W | 50 MΩ | 1000 pF | 2 µs | TO-8 | ||
UV-35 | 35 mm² | 0.14 A/W | 30 MΩ | 1600 pF | 3 µs | TO-8 | ||
UV-35P | 35 mm² | 0.14 A/W | 30 MΩ | 1600 pF | 3 µs | Plastic | ||
UV-50 | 50 mm² | 0.14 A/W | 20 MΩ | 2500 pF | 3.5 µs | BNC | ||
UV-100 | 100 mm² | 0.14 A/W | 10 MΩ | 4500 pF | 5.9 µs | BNC | ||
UV-100L | 100 mm² | 0.14 A/W | 10 MΩ | 4500 pF | 5.9 µs | Low Profile |
OSI社の平面拡散構造UVエンハンスドフォトダイオードは反転層デバイスと比較して、低容量、高応答時間などの大きな利点を有しています。
これらのデバイスは反転層デバイスと比較して、より高い光入力パワーまで光電流の線形性を示します。
また、反転層デバイスに比べ、応答速度や量子効率は相対的に低くなります。
平面拡散型UVエンハンスドフォトダイオードには2つのタイプ(UVDQ、UVEQ)があります。
両シリーズとも電気光学特性はほぼ同様ですが、UVEQシリーズではデバイスの近赤外応答が抑制されている点が異なります。
これは近赤外域を遮断する必要がある場合に特に望ましいです。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Peak Wavelength | Responsivity @ 200nm | Shunt Resistance | Reverse Voltage | Rise Time | Package | Window Glass |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
UV-005EQ | 5.7 mm² | 720 nm | 0.12 A/W | 20 GΩ | 140 V | 0.5 µs | TO-5 | Quartz | ||
UV-005EQC | 5.7 mm² | 720 nm | 0.12 A/W | 20 GΩ | 140 V | 0.5 µs | Ceramic | Quartz | ||
UV-013EQ | 13 mm² | 720 nm | 0.12 A/W | 10 GΩ | 280 V | 1 µs | TO-5 | Quartz | ||
UV-035EQ | 34 mm² | 720 nm | 0.12 A/W | 5 GΩ | 800 V | 2 µs | TO-8 | Quartz | ||
UV-035EQC | 34 mm² | 720 nm | 0.12 A/W | 5 GΩ | 800 V | 2 µs | Ceramic | Quartz | ||
UV-100EQ | 100 mm² | 720 nm | 0.12 A/W | 2 GΩ | 2500 V | 7 µs | BNC | Quartz | ||
UV-100EQC | 100 mm² | 720 nm | 0.12 A/W | 2 GΩ | 2500 V | 7 µs | Ceramic | Quartz |
OSI社の平面拡散構造UVエンハンスドフォトダイオードは反転層デバイスと比較して、低容量、高応答時間などの大きな利点を有しています。
これらのデバイスは反転層デバイスと比較して、より高い光入力パワーまで光電流の線形性を示します。
また、反転層デバイスに比べ、応答速度や量子効率は相対的に低くなります。
平面拡散型UVエンハンスドフォトダイオードには2つのタイプ(UVDQ、UVEQ)があります。
両シリーズとも電気光学特性はほぼ同様ですが、UVEQシリーズではデバイスの近赤外応答が抑制されている点が異なります。
これは近赤外域を遮断する必要がある場合に特に望ましいです。
UVDQデバイスは970nmにピークを持ち、低容量、高速応答、広いダイナミックレンジのためにバイアスをかけることができます。
また、温度変化によるドリフトが少ないアプリケーションでは、フォトボルティック(非バイアス)モードで動作させることができます。
(▼表は横にスクロールしてご覧いただけます)
Image | Datasheet | Model Number | Active Area | Peak Wavelength | Responsivity | Shunt Resistance | Capacitance | Rise Time | Window Glass | Package |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
UV-005DQ | 5.7 mm² | 980 nm | 0.12 A/W | 1 GΩ | 65 pF | 0.2 µs | Quartz | TO-5 | ||
UV-005DQC | 5.7 mm² | 980 nm | 0.12 A/W | 1 GΩ | 65 pF | 0.2 µs | Quartz | Ceramic | ||
UV-013DQ | 13 mm² | 980 nm | 0.12 A/W | 0.8 GΩ | 150 pF | 0.5 µs | Quartz | TO-5 | ||
UV-035DQ | 34 mm² | 980 nm | 0.12 A/W | 0.1 GΩ | 380 pF | 1 µs | Quartz | TO-8 | ||
UV-035DQC | 34 mm² | 980 nm | 0.12 A/W | 0.4 GΩ | 380 pF | 1 µs | Quartz | Ceramic | ||
UV-100DQ | 100 mm² | 980 nm | 0.12 A/W | 0.2 GΩ | 1100 pF | 3 µs | Quartz | BNC | ||
UV-100DQC | 100 mm² | 980 nm | 0.12 A/W | 0.2 GΩ | 1100 pF | 3 µs | Quartz | Ceramic |