透過型電子顕微鏡(TEM)
型式：LVEM25E
LVEM25E
LVEM25Eは、3 つのイメージング モードと 2 つの分析モードを 1 つの自己内蔵型に統合している汎用性の高い装置です。この高度な設計と優れた分解能の組み合わせにより、LVEM 25E はナノスケール イメージングに必要な要件をすべて満たす優れた最良のパートナーになります。
TEM、STEM、SEM、EDS、ED モードを搭載した LVEM 25E は、1 つのサンプルから複数のデータ結果を取得することができるオプションをユーザーに提供します。直感的な LVEM ソフトウェアを使用してイメージング モードを簡単に切り替えることができます。
・コンパクトで省スペース、特別な設備は不要
・ほぼすべての実験室環境に単一プラグで設置可能
・簡単操作、専任オペレーター不要
・高コントラストと解像度を実現
・1.0mmの画像分解能を実現
・ほぼすべての実験室環境に単一プラグで設置可能
・簡単操作、専任オペレーター不要
・高コントラストと解像度を実現
・1.0mmの画像分解能を実現
実際の撮像画像
仕様
| オペレーション | |
| サンプルサイズ | 標準φ3.05mmTEMグリッド |
| 対物レンズ | Magnetostatic |
| 投影レンズ | Electrostatic |
| サンプル移動 | x,y: ±1mm z: ±0.5mm |
| 傾斜フォルダー | ±6° |
| サンプル交換時間 | 約3分 |
| バキューム | |
| エアロックシステム | |
| ダイヤフラムとターボ分子ポンプ | 10-5 mbar |
| サンプルステージ | |
| イオンゲッターポンプ | 10-8 mbar |
| 電子銃 | |
| イオンゲッターポンプ | 10-9 mbar |
| イメージングモード | |
| TEM | |
| 標準加速電圧 | 25kV |
| 解像度 | 1.0nm |
| 総合倍率* | 3,400-1,300,000 x |
| 低倍率領域での倍率* | 1,500x |
| 視野 | 100 -0.25 μm |
| 低倍率領域での視野 | 225μm |
| *binning 2×2で表示中の画像にて有効 | |
| 電子回折 | |
| プローブサイズ | 500 – 8,000nm |
| カメラ長（binning 2×2） | 2,000- 5,000 ピクセル |
| カメラコントラスト（binning 2×2） | 17 40nm ピクセル |
| STEM | |
| STEM10 | |
| 標準加速電圧 | 10kV |
| 解像度 | 1.0nm |
| 最大倍率 | 940,000x |
| 最大視野 | 105μm |
| STEM15 | |
| 標準加速電圧 | 15kV |
| 解像度 | 1.3nm |
| 最大倍率 | 750,000x |
| 最大視野 | 80μm |
| SEM(BSE検出) | |
| SEM10 | |
| 標準加速電圧 | 10kV |
| 解像度 | 10nm |
| 最大倍率 | 940,000x |
| 最大視野 | 105μm |
| SEM15 | |
| 標準加速電圧 | 15kV |
| 解像度 | 10nm |
| 最大倍率 | 750,000x |
| 最大視野 | 80μm |
| EDS | |
| 検出器タイプ | シリコンドリフト検出器(SDD) |
| 有効検出エリア | 30mm2 |
| X線ウィンドウ | ウィンドウ無し |
| エネルギー分解能 | Mn Kα≦129eV |
| 最大処理能力 | 130 000 cps |
| ハードウェア統合 | 完全組み込み |
| ソフトウェア | Esprit 2.3 |
| イメージ | |
| TEMイメージキャプチャ | |
| カメラ | sCMOS |
| センサーサイズ | 2,048 x 2,048ピクセル |
| ビット数 | 16ビット |
| STEMイメージキャプチャ | |
| 2,048 x 2,048 ピクセル / 8ビットまで | |
| SEMイメージキャプチャ | |
| 2,048 x 2,048 ピクセル / 8ビットまで | |
| 重量と寸法 | |
| 顕微鏡ユニット | |
| 重量 | 220kg |
| 寸法（幅x奥行x高さ） | 780 x 740 x 1450mm |
| ダイアフラムポンプ | |
| 重量 | 3kg |
| 寸法（幅x奥行x高さ） | 300 x 160 x 200mm |
| 電子ユニット | |
| 重量 | 50kg |
| 寸法（幅x奥行x高さ） | 1400 x 700 x 760mm |
| 消費電力 | |
| スタンバイモード | 60VA |
| 操作時 | 410VA |
| 最大消費量 | 600VA |
| 主要電源 | |
| 電圧/周波数 | 100 – 240V / 50 – 60Hz |
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技術的特徴
用途
| 材料科学分野 | |
| ナノマテリアル | ポリマー研究 |
| 高コントラストのTEM・SEM測定により、ナノ粒子の形状・構造・サイズ分布をキャプチャし、詳細な特徴を明らかにします。 | 高コントラストTEM測定と詳細なEDデータを使用して、サンプルの携帯を理解し、高分子材料の結晶構造の損傷を検出します。 |
| ライフサイエンス | |
| 病理学 | ウイルス学 |
| 薄片のハイスループット画像をキャプチャ、または染色を減らして通常は染色により隠れてしまう構造を分析します。TEM・SEM測定を組み合わせて、基本的な表面特性とサンプル品質を確認します。 | 最小ウイルスの量・サイズ・形状・カプシド構造に関する詳細を迅速かつ確実に測定します。STEMモードを使用して、より大きなウイルスの内部構造を分析します。 |
| 生化学 | |
| サイズ・形状・構造研究用に染色、またはタンパク質などの様々な生体材料の高コントラストのネガ染色画像をキャプチャします。 | |
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1992年に設立されたDelong Instruments社は、透過型電子顕微鏡（TEM）の分野で高度な電子光学機器の開発、エンジニアリング設計サービスの提供、精密部品および真空技術の製造を行っています。▷Delong Instruments社の製品一覧はコチラ＞＞
