レーザー/レーザー出力計・SLD・LED

OE機器・チラー・ソフトウエア

関連サイトリンク

  • 光学部品専用サイト
  • 計測器専用サイト
  • アウトレット専用サイト

HOME > LVEM5 卓上低電圧電子顕微鏡 Delong America

LVEM5 卓上低電圧電子顕微鏡 Delong America


Delong America デロング アメリカ
LVEM5 卓上 低電圧電子顕微鏡 1台で4イメージ

透過型電子顕微鏡 (TEM)
走査型電子顕微鏡 (SEM)
走査型透過電子顕微鏡 (STEM)
電子回折 (ED)

LVEM5  卓上低電圧電子顕微鏡


LVEM5は、比類のないベンチトップの利便性と高度な画像処理を併せ持ち、革新的な技術のプラットフォーム上に構築された次世代の電子顕微鏡です。


 

LVEM5  技術とデザイン


ベンチトップ デザイン

LVEM5は従来からモデルとは外れた基本設計概念を持っています。
ベンチトップだけに限っても、従来のTEM設計とは異なる基本設計概念を採用し、設置面積を大幅に小さくしました。 LVEM5は、古典的な電子顕微鏡よりも約90%小さくなっています。古典的な設計概念とは対照的に、電子光学カラムは非常に短く、LVEM5全体のわずか約50%の高さしかありません。これはLVEM5を
実験室のデスクトップまたはベンチトップに設置することが出来ます。

低電圧電界放出銃:高輝度、高コントラスト

電子源は、電子顕微鏡のパラメータを決定します。LVEM5に採用された独自設計のショットキー型電界放出銃は、非常に高輝度で空間的コヒーレンスを持っています。
 
TEM画像のコントラストは、試料各部の電子間の相互作用の程度を変えることによって与えられます。古典的なTEMでは、高エネルギー電子よりも低エネルギー電子の方がサンプルとはるかに強く相互作用します。LVEM5の電子は、無機材料と有機材料の両方に強く散乱し、例外的な特徴差をもたらします。5 kVで5%のコントラスト差を得るのに必要な濃度差は、わずか0.074 g/cm3です。

永久磁石レンズ:​​冷却不要

LVEM5は、冷却を行わずに動作するように設計されています。従来の電子顕微鏡では、電磁レンズ内の循環電流によって生成される大量の熱を除去するために、能動的な冷却が必要とされます。LVEM5に使用しているユニークなデザインの永久磁石レンズによって、そのコンポーネントを冷却する必要性はなくなりました。
 

イオンゲッターポンプ:クリーン真空、クリーンカラム、クリーンイメージ

イオンポンプは、本質的に乾式で、振動がなく、非常に高い真空レベルを達成します。機械式ロータリーポンプや拡散ポンプが使っているようなオイルは使用していません。特別に設計されたイオンゲッターポンプを利用することにより、LVEM5はサンプル間のあらゆる汚染を回避し、安定した撮影条件や画像の乱れのない結果が得られます。
 

TEM 透過型電子顕微鏡:インライン、二段光学プラットフォーム


 

電子オプティクス
電子オプティクスは、倍率の最初の段階です。FEGのカソードは、顕微鏡のベース。電子が試料を通って上方に移動するので、電子ビームは、そのときコンデンサーと対物レンズによって整形されます。それらは、初期画像の形成のためのYAGシンチレータ画面に向かって継続します。独自の2段ステージ拡大システムに高い光学倍率を搭載することにより、YAG画面上の高空間分解能が可能になります。

光学系


光学系は、安定で信頼性が高く、初期画像をYAG画面上にさらに拡大します。蛍光スクリーンから光学系への高効率な光伝送があります。異なる光対物の選択は、広い倍率を可能にします。

デジタル イメージング

デジタルイメージングは、LVEM5のトップに取り付けたペルチェ冷却CCDカメラによるものです。カメラは、低照度、高ダイナミックレンジ画像キャプチャに最適化されています。光学系で拡大された画像は、その後の閲覧や解析のためにキャプチャされます。
 

SEM 走査型電子顕微鏡:マルチモード用の集積検出器

後方散乱電子検出器は、走査電子顕微鏡検査を並列に実行可能にするように透過型電子顕微鏡専用に設計され、電子オプティクス・カラムに直接組み込まれています。
 
SEMモードでは、電子ビームが小さいスポットに集束され、次にサンプル上を繰り返しスキャンします。 電子は、電子源の方向に高い角度で弾性的に後方散乱されます。これらの後方散乱電子は、走査点ごとに別々に円環状固体検出器によって収集されます。後方散乱電子の空間強度分布は、PCソフトウェアで最終画像を形成するために使用されます。
 
選択されたスポットサイズと最適化された作動距離の組み合わせにより、広い範囲の倍率を可能にします。小さな作動距離は、高い空間分解能を生み出し、セグメント化された半環状検出器は、材料やレリーフコントラストの選択肢を提供します。

独創的デザイン:

操作コンソールによって、オペレーターが顕微鏡本体から離れて、システムを操作し、モニターで結果を観察できるので、飛躍的な快適性が得られます。
フィードバックは、コントロールパネル上からだけではなく、LVEM5の総合的ソフトウェアを通じて直接提供されています。


LVEM5  TEM 透過型電子顕微鏡モード


透過型電子顕微鏡(TEM)モードでは、薄い試料を電子ビームが貫通します。
このモードは、強化された本来のコントラストが最も顕著なLVEM5の利点です。入射ビームの電子が透過する時に、透過電子顕微鏡の情報が得られ、試料の原子により散乱します。TEM分析の典型的な試料は、超薄膜バルク材料の薄片、またはナノサイズの粒子薄膜上に堆積した繊維です。

LVEM5は低電圧(5kV)透過型電子顕微鏡(TEM)です。これは、伝統的な電子顕微鏡の加速電圧(80kV -200kV)を下回っています。TEMイメージにおいて、増加電子散乱の結果、大きなコントラストになります。

コントラストの向上のメリット
・改善されたコントラスト - 密度差の下限しきい値
・重金属染料を使用せずに、高kVの方法では分解しない可視化試料
・人為的な結果を避ける : 染料によってもたらせた非既存の構造


Courtesy of:
Institute of Parasitology, Academy of Sciences of the Czech Republic
Microsc Microanal 13 (Suppl 3), 2007

左 1. 5kV TEM において、コントラストつける物質を使わない、ライム病ボレリアの孤立した鞭毛
右 2. 100kV TEM において、酢酸ウラニルで負の染色した鞭毛



超高コントラストは、明るい、高コヒーレント電子ビームによって画像が生成されます。顕著な改善はTEMの結果で品質が観察されます。通常コントラストを高める染色は、LVEM5では不要です。

LVEM5はベンチトップ構成の唯一の透過型電子顕微鏡(TEM)です。設置のために専用の施設は不要です。特別な電源、冷却、防振は不要です。
 

TEM BOOST  強化イメージング モジュール



NEW
TEM BOOSTは TEMイメージで総合倍率と高分解能を提供する、TEMイメージ モードのハードウエア ベースの拡張機能です。高いイメージ クオリティーのために、高感度カメラとパワフルな投影レンズの組み合わせで
高い倍率と分解能が可能になります。倍率の範囲が1,400倍から700,000倍に向上します。1.2nmの改善された解像度の組み合わせで、TEM 最終イメージ解像度 0.18nm/pixel 最大倍率が得られます。

ナノ粒子分析のために、2-10nmの範囲でサイズ、形状を計測できます。薄く切られた標本は倍率の全範囲で、大きな視野、強調された画像の品質を見ることができます。

詳細は 
TEM BOOST Page をご覧下さい。

主な仕様

動作電圧 5 kV
解像度       基本モデル
          TEM BOOST付き
2 nm
1.2 nm
最終イメージ解像度 基本モデル
          TEM BOOST付き
0.65 nm/pixel
0.18 nm/pixel
倍率範囲      基本モデル
          TEM BOOST付き
2,200x - 230,000x
1,400x - 700,000x
最大イメージ キャプチャー サイズ 基本モデル
                    TEM BOOST付き
2056 x 2056
2560 x 2160
電子源 電界放出銃 (FEG)
モーター駆動ステージ Yes


  



LV




EM5  卓上低電圧電子顕微鏡の比較


                Carbon Nonotubes                 Carbon Nonotubes


   

     Carbon Nonotubes                  Carbon Nonotubes



   


      Ferretin Protein                 Ferretin Protein




   


    6nm CdSe Nanoparticles             6nm CdSe Nanoparticles


 


 

SEM 走査型電子顕微鏡モード


走査型顕微鏡モードでは、ビームは試料を透過しません。ビームが試料上を走査します。試料から跳ね返る電子は、特別な後方散乱電子検出器(BSE)および、表面構造の画像によって収集され、組織の情報が生成されます。BSE検出器は四分円に分割されます。SEMイメージでは、染色または切片厚に関係なく、ほとんどの試料を観察できます。

固体試料は最小限の前準備だけでSEMモードで観察出来ます。コーティングは非導電性材料のSEMイメージングのために必要ですが、LVEM5 低加速電圧はコーティング無しで、自然の状態で非導電性試料の観察が可能です。SEM観察用の試料は基板上に分配された、ナノ粒子、フィラメントだけでなく、バルク試料の断片または破断面です。

LVEM5 はベンチトップ型構成で唯一なマルチモーダルな電子顕微鏡です。TEMとSEMモードで画像化する唯一の卓上型SEMです。

LVEM5 は簡単に操作ができます。電子顕微鏡写真を撮るために高度な訓練を受けた技術者を必要としません。

動作電圧 5kV
解像度 3nm
検出器 BSE
倍率範囲 640x - 100,000x
イメージ キャプチャー サイズ 512 x 512, 1024 x 1024,  2056 x 2056
電子源 フィールド エミッション ガン(FEG)
モーター駆動ステージ 標準


コントラストを得るために高電圧電子顕微鏡では染色をしますが、LVEM5 ベンチトップは不要です。

LVEM5 Gallery をご覧下さい。(写真をクリックすると大きくなります)
Click to view the full 
SEM Gallery

 


STEM 走査型透過電子顕微鏡


STEMイメージは試料全体が同時に電子ビームに照射されなく、試料に小さな直径で横断的にスキャンするので、TEMとは異なります。染色した試料の観察、TEMで必要とされる厚さより厚い場合に有効な技術。

LVEM5 Galleryをご覧下さい。(写真をクリックすると大きくなります)
Click to view the full 
STEM Gallery

 

ED 電子回折


LVEM5 における電子回折パターンは、結晶性または部分結晶材料(セラミック、金属またはポリマー)の薄い試料に対して得られます。単結晶または高度なテクスチャ化薄膜は、ドットパターンを生成、多結晶は環状の回折パターンを生成します。

パターン(リングまたはドットと個々のリングの強度との間の距離)の設定は、分析材料に見出すことができる特定の結晶相の特長です。

LVEM5 における回折モードがTEMモードから簡単にアクセスし、取得したパターンは、特定の領域または試料中に存在する機能(粒、粒子、フェース)に起因することが出来ます。取得された回折パターンのその後の分析は、試料の結晶構造、結晶角、試料の位相構造に関する情報を提供します。


LVEM5 Galleryをご覧下さい。(写真をクリックすると大きくなります)
Click to view the full 
ED Gallery



 

4イメージ モード 4-in-1


LVEM5 は多様なイメージング モードを持っています。4-in-1 電子顕微鏡です。
透過型電子顕微鏡 (TEM)
走査型電子顕微鏡 (SEM)
走査型透過電子顕微鏡 (STEM)
電子回折 (ED)

試料を動かすこと無くイメージモードの切り替えができます。

ED                       SEM
   

Electron Diffraction pattern of ZnO crystal      SEM image of Hydrogel

STEM                      TEM
   

STEM image of Polyethylene single crystals     TEM image of cell organelles



 

LVEM5 特長


マルチプル イメージング モード、卓上、価格の優位性

同一の電子ビームでTEM、ED、SEM、STEM
機械的、光学的、真空の構成 
任意の場所に設置
特注の必要性なし
経済的な価値

    





 

LVEM5 ソフトウエア


LVEM5は、直感的なユーザーソフトウエア インターフェイスを介してコントロールされます。全ての重要な顕微鏡パラメーターのモニタリングと調整を可能にします。ソフトウエアによって全てのイメージモードをシームレスに切り替えられます。ソフトウエアはLVEM5の操作コンソール機能の多くを複製、仮想キーボードとして機能します。
全てのモードで、画像取得をソフトウエアによって行われます。TEM取得モジュールは、ライブ イメージ、デジタルカメラ変数を完全に制御するためのFFTとスケールバー表示が含まれます。


 

デジタル イメージング

QImagingからサイエンティフィック グレードRetiga 4000R ペルチェ冷却デジタルカメラは、低照度感度、高ダイナミックレンジのために、LVEM5に選択しました。Retiga 4000Rは2048x2048ピクセル アレイとKodak KAI 4021プログレッシブ スキャンCCDを搭載しています。


TEM BOOST付きのLVEM5のカメラは、Andor からアップグレードしたZyla 5.5 サイエンティフィックCMOSカメラを採用しています。このカメラの特長は光に高感度で高速、コンパクトTE冷却設計です。超感度CMOSカメラは、比類のない1.2エレクトロン典型的なリード ノイズ フロア、30f/s 、200MHzピクセル リードアウトです。ベストCCDカメラでも2エレクトロン ノイズ、リードアウト速度1MHz 遅くとも0.15f/sです。

イメージ後処理のために、LVEM5 ソフトウエア キットには、コントラスト調整のためのQCapture Pro ソフトウエア、エクスポート ファンクション付きマルチプル イメージ測定、空間フィルターリング、他の操作が含まれます。

Click to view the full 
LVEM5 Gallery








 

LVEM 5 仕様


試料

グリッド 3 mm TEM グリッド
試料交換時間 ~ 3 分
モーター駆動ステージ  

電子工学

コンデンサーレンズ 永久磁石
最小照射領域 100 nm
コンデンサー開口 f 50, 30 µm
対物レンズ magnetostatic
焦点距離 1.26 mm
CS 0.64 mm
CC 0.89 mm
αtheoretical (開口角) 10-2 rad
Objective (コントラスト) 開口 f 50, 30 µm
投射レンズ (TEM) Electrostatic
Basic TEM 単レンズ
TEM BOOST 二重レンズ

電子銃 (FEG)

シットキー カソード  ZrO/W[100]

 
電流密度 0,2 mA sr-1
寿命 > 2,000 時間

光 オプティックス

Objectives Olympus M 4x NA 0.13
Objectives Olympus M 40x NA 0.95
TEM イメージ キャプチャー  
基本 TEM  
カメラ Retiga 4000R CCD           
センサーサイズ 2,048 x 2,048 ピクセル
デジタル処理 12-bit
ピクセルサイズ 7.4 x 7.4 µm
冷却 ペルチェ冷却
リードノイズ 12 e-
TEM BOOST  
カメラ Zyla 5.5 Scientific CMOS
センサーサイズ 2,560 x 2,160 ピクセル
デジタル処理 12 or 16 bit
ピクセルサイズ 6.5 x 6.5 µm
冷却 TE 冷却
リードノイズ 1.2 e-
イメージング モード TEM, ED, STEM, SEM
基本 TEM  
解像力 2 nm           
総合倍率 2,200-230,000x
TEM BOOST  
解像力 1.2nm
総合倍率 1,400-700,000
ED (電子線回折)  
最小プローブサイズ 100 nm
Camera Length (binning 1x1) 2,100 Pixels
Camera Constant (binning 1x1) 36.3 nm pixels
STEM  
解像力 2.5 nm
Max. 倍率 250,000x
Max. 視野 25 x 25 um
SEM (BSE 検出器)  
解像力 3 nm
Max. 倍率 100,000x
Max. 視野 200x200um

真空

エアロック システム (試料交換用)  
ダイヤフラムとターボ分子ポンプ 10-5 mbar

物体空間

 
イオン ゲッター ポンプ (10 lsec-1) 10-8 mbar

電子銃

 
イオン ゲッター ポンプ (3 lsec-1) 10-9 mbar

消費電力

 
スタンバイ (イオン ゲッター ポンプのみ) 11 W
電源 120 W
エアロック ポンプ システム 250 W

 

 

 

重さとサイズ

  重さ サイズ (L x W X H)
電子及び光オプティックス装置
          (顕微鏡本体とハウジング)
25 kg (55 lbs) 29 x 45 x 43 cm 
(12 x 17 x 16 inches)
エアロック  ポンプ システム
          (床置きターボ分子ポンプ)
17 kg (37 lbs) 30 x 30 x 34 cm 
(12 x 12 x 13 inches)
電源
          (電気ユニット)
19 kg (41 lbs) 47 x 27 x 27 cm 
(19 x 11 x 11 inches)
加速電圧 5kV  

*冷却水不要




LVEMと従来型顕微鏡との比較


サイズを比較

                                従来型100kV TEM               LVEM5                                  LVEM25


コントラストの比較

      左が古典的なTEMの画像           右がLVEM5の画像



microtubules comparison of Malaria compare
LVEM5 sample courtesy of Dr. David Elliot, The University of Arizona

左がマラリア分裂体のイメージ、核膜(黄色い矢印)が弱いコントラストですが、右のLVEM5のイメージは非常にはっきりとしています。さらに、発達しているメロゾイド(赤い矢印)はLVEM5のイメージでははっきり見えています。しかし、古典的なTEMイメージではかろうじて識別されています。 LVEM5は染色していません。





Images courtesy of Dr. David Martin, Larry Drummy et al., The University of Michigan

これな微小管 マイクロチューブルの画像の比較です。左が染色された古典的なTEM試料で、LVEM5は染色していません。
LVEM5の結果では、
微小管 マイクロチューブルの厚さ、電子密度の真のイメージを提供します。

 

コストの比較

LVEMは、古典的な電子顕微鏡(EM)よりも遙かに優れています。大型の電子顕微鏡のように、設置に費用がかかりません。

冷却水は不要です。除振装置も不要です。100V 10A 50-60Hz のテーブルタップ (4個口}があれば全てがまかなえます。特別な部屋を必要としません。
 

比較表

                  LVEM5          LVEM25         従来型 TEM

動作モード TEM, STEM, SEM, ED TEM, STEM, ED TEM
コントラスト 未染色試料 高い 高い 低い
動作電圧 5kv 10, 15, 25kv 80-300kv
電子源 Field Emission Gun (FEG) Field Emission Gun (FEG) Tungsten or FEG
分解能
TEM 分解能 Base - 2nm
   Boost - 1.2nm
1.0nm Less than 2nm
最終TEMイメージ分解能 Base - 0.65nm/pixel
   Boost - 0.18nm/pixel
0.07nm/pixel  
設置
場所 卓上、実験台 卓上、実験台、移動カート 専用の部屋
電気 標準のテーブルタップ 標準のテーブルタップ 専用HVソース
冷却水 不要 不要 必要 : 0.2-0.6 Mpa
圧縮空気 不要 不要 圧縮空気: '4-6 Atm

エアロックポンプダウン

3 分
  (miniature column)
3 分
  (miniature column)
長時間
  (column size dependant)
重さ 22.7kg (50 lbs) 91kg (200 lbs) 730kg (1,609 lbs)
サイズ 61 x 61cm    (2 ft by 2 ft) 92 x 61cm   (3 ft by 2 ft) 214 x 244cm  (7 ft by 8 ft)
操作
  簡単 簡単 複雑
  グループ全員で使用 グループ全員で使用 専用オペレーター
  学生が扱えます 学生が扱えます  
適した試料
  ナノ粒子 ナノ粒子 ナノ粒子
  未染色ポリマー切片 染色した生体の切片 染色した生体の切片
  未染色生体の切片 染色したポリマーの切片 染色したポリマーの切片
  粉末 未染色ポリマーの切片 ナノチューブ
  繊維 未染色生体の切片  
  ナノチューブ 粉末  
  バルク材料 繊維  
  ファージ ナノチューブ  
  ウイルス バルク材料  
    ファージ  
    ウイルス  
切片(薄片)の厚さ
  20 - 50 nm. TEM 80+ nm. TEM 80+ nm TEM
  20 - 80 nm. STEM 80+ nm. STEM 80+ nm. STEM
真空中の試料 Yes Yes Yes
価格 Benchtop price Benchtop price ¥60,000,000 - ¥250,000,000

価格はすぐにお見積もりします。設置(1日)とトレーニング(4日)を含みます。

                      LVEM5                従来 卓上型SEM 

動作モード TEM, STEM, SEM, ED SEM のみ
試料コーティング 有益 有益
  必須ではありません 必須ではありません
動作電圧 5kv 1-30kv
電子源 Field Emission gun (FEG) タングステン フィラメント
設置    
場所 デスクトップ、実験台 デスクトップ、実験台
     
SEM 分解能 3 nm 100nm 以上
適した試料 ナノ粒子 バルク材料
  未染色ポリマー切片 繊維
  未染色生体切片 粉末
  粉末  
  繊維  
  ナノチューブ  
  バルク材料  
  ファージ  
  ウイルス  
     
真空中の試料 Yes モデルによって異なる
価格 Benchtop price Benchtop price

価格はすぐにお見積もりします。設置(1日)とトレーニング(4日)を含みます。



 

LVEM5 チルト ホルダー  オプション


LVEM5 透過型電子顕微鏡(TEM)モードでは電子断層撮影のためにオプションのチルトホルダーと組み合わせることができます。 これは2D画像から詳細な3D構造を得るための技術です。このプロセスは、電子ビームはターゲット試料の中心の周りを回転の度合いで試料を通過します。この情報は収集され、ターゲットの三次元画像のアセンブルされます。

LVEM5用のチルトホルダーは、試料の三次元画像の再構成を可能にして、異なる視点から様々な異なるタイプの試料分析を可能にします。

 

ASBESTOS FIBER

ASBESTOS

TEM GRID

GRID

INSECT LEG

LEG

アスベスト繊維          TEM グリッド           昆虫の足

傾斜の角度 ±22.5°
TEM、SEM、STEMモードに対応します。


 

AFM チップ ホルダー  オプション


LVEM5 電子顕微鏡とオプションのAFMチップ ホルダーを組み合わせることにより、ほとんどのAFMチップの画像が得られます。AFMチップの品質とデザインに関する情報を即時に得る技術です。
原子間力顕微鏡(AFM)は、試料の表面を走査するシャープチップ(プローブ)のカンチレバーに依存します。AFMチップは、一般的に数ナノメートル程度の曲率半径を持っています。


チップが試料の表面に近づくと、チップと試料に力が加わり、カンチレバーが振れます。計測される力は、メカニカル接触力、ファン・デル・ワールスの力、毛管力、化学接合、静電力、電磁力など他です。AFMプローブの性質は、測定される力、顕微鏡最終感度で決定されます。

チップ形状とシャープネスは容易にTEMモード、SEMモードの両方で計測できます。汎用性と敏速な試料交換とは、AFMプローブの製造に伴う品質保証検査に強力な優位点です。

カスタムAFMチップ、化学及び生物学的にコーティングされたAFMチップ、またはナノ粒子またはリガンドのような粒子の付着したAFMチップがたやすく画像化出来ます。さらに、LVEM5の低電圧イメージは、AFMチップを機能させるために使用される任意の軟質材料(ポリマー、生物学的材料)に非常に高いコントラストが得られます。

SEM イメージ

    

TEM イメージ

    


最大物質サイズ 4.0mm x 2.0mm x 0.45mm
TEM 及び SEMに対応

 


 

アクセサリー

 

ELMO グロー放電システム







Cordouan Technologies のサイトにリンク

Cordoan Technologies のELMOのサイトにリンク


TEMカーボン支持膜は疎水的な傾向があります。空気とグロー放電処理は、水溶液の吸着を可能にし、負に荷電し親水性カーボン膜の表面を作ります。

親水性または疎水性、負または正電荷
特定のガス雰囲気でのグロー放電処理は、拡散するソリューションの吸着を最適化するために、TEM支持フィルムまたはグリッドの表面特性を変更します。


Download ELMO Brochure

Viral Capsids Deposited Without Glow Discharge    Viral Capsids Deposited With Glow Discharge
 

ELMO Glow Discharge User Video.



 















 



波長405nmから1653nm。シングルモード ファイバーから良質のビームクオリティーの高出力レーザーを得ることができます。高安定、狭帯域、出力可変、2 MHzまでの変調が外部端子からできます。

PAGE TOP

Copyright © 2015 FIT Leadintex,Inc Co.,Ltd. All rights reserved.