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散乱計   The scatter Works, Inc.

The Scatter Works Inc. (TSW)

散乱計

TSW 散乱計概要


これらのThe Scatter Works, Inc (TSW)の装置はLambda Resarch Corp.を通して輸入、国内に販売しています。広範囲にわたる仕様と価格帯で用意で、お客様のご要望に適合したものをお選びいただけます。例えば異なる波長域の光源とまとめて全装置を購入いただくことも可能です。ここでは概要を記載しているのみですが、お客様の選択の方向性を決める一助となり、ざっくりとした仕様をまとめることができるでしょう。

より詳細な情報やお見積りがお入り用の場合はFITリーディンテックスデにお問い合わせください。
 

MicroScan 散乱計



MicroScanはTWSの散乱計です。
ダイオードレーザーと検出器3個を備えています。この装置は入射角25度に於いて鏡面反射率を測定すると同時に0度と50度における散乱光を計測します。
評価面が光学的に滑らかで、等方であると仮定してRMS粗さを評価します。ノイズフロアはおよそ10-5/sr です。
この装置は大型光学系の経時変化の評価に用いられています。

 

ScatterScope4  散乱計




Scatter4は、USA アリゾナ州のScatterMaster社よって製造されているテーブルトップ型の装置です。複数のシリコン検出器が搭載されており、これが180度スキャンすることにより、半球全体の散乱や入射面における反射・透過散乱を測定します。
最大3個までのダイオードレーザーを装着出来ます。この装置では鏡面反射を測定せず、ノイズフロアは10-5〜10-6 程度になります。最大の特徴は高速測定(1スキャンあたり、15〜20秒)と操作が簡単なことです。操作をマスターするのにわずか数分です。照明産業にとってまさに理想的な装置です。赤色レーザーダイオードが1個搭載タイプとRGB光源の装置があります。

 

CASI 散乱計




TSWの研究用の装置で、紫外から中赤外にいたる複数のレーザー光源と組み合わせることができます。プログラム可能な集光アパーチャーとステップサイズにより、表面反射光から0.1度以内の測定を可能にしており、ノイズフロアも空気の分子散乱による限界、10-8/sr (可視域)に達しています。プログラム可能な入射角度における、入射面内のスキャンが行えます。
設置には光学定盤のある実験室が必要です。また用途によってはHEPAフィルタの設置をおすすめします。

 

TASC 散乱計




TASC 散乱計は、CASI散乱計をベースにして手動可変アパーチャー付きの半球面測定オプションを含めた装置です。
紫外、可視、中赤外、ブロードバンドなシステムが構築されています。

 

TTS 散乱計




TTS 散乱計は、ドイツ・イエナにあるIOF社製造のテーブルトップ型で研究所用装置です。
入射面(測定時間5分)と半球面(1〜数時間)の両方を近紫外から近赤外にわたって測定できます。表面反射光近傍の測定はサンプルの散乱強度によって1°〜2°までに制限されます。ノイズフロアは空気散乱で制限され10-8/sr です。3色RGBレーザー搭載の機種があります。

このチャートは5種類の散乱計の比較表です。機能の面で重なる部分はありますが、それぞれがユニークな特徴をもっており、競合することはありません。 

装置名

MIcroScan

ScatterScope4

CASI

TTS

TASC

製造会社

TSW

ScatterMaster

TSW

IOF

TSW

Incid Plane Mass

5秒

15秒

5 -10分

5 -10分

5 -10分

Hemispherical Msss

No

15秒

No

1 - 5時間

1 - 5時間

Auto TIS

Est.

Yes

Est.

Yes

Yes

Near UV to Near IR

Yes

Yes

Yes

Yes

Yes

Mid IR

No

No.

Yes

No

Yes

Visible NEBRDF

10-6/sr

10-6/sr

10-8/sr

10-8/sr

10-8/sr

Near Specular

NA

5 - 10°

< 0.1°

< 2.0°

< 1.0°

 










 







波長405nmから1653nm。シングルモード ファイバーから良質のビームクオリティーの高出力レーザーを得ることができます。高安定、狭帯域、出力可変、2 MHzまでの変調が外部端子からできます。

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